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新聞資訊

航天航空用芯片推拉力測試機方法與流程

發(fā)布時間:2023-11-24         文章來源:

隨著現(xiàn)代航天航空技術(shù)的蓬勃發(fā)展,芯片在航天航空中的運用日趨重要。航天航空產(chǎn)品對使用環(huán)境要求極其嚴苛,要經(jīng)歷發(fā)射環(huán)境、空間軌道環(huán)境、再入環(huán)境等,承受高溫、燒蝕、空間溫度的急劇變化、高真空、超低溫、熱循環(huán)、紫外線、帶電粒子、原子氧的特殊環(huán)境的考驗,這就意味著,應(yīng)用在航天航空上的芯片及其保護封裝也同樣面臨嚴苛的環(huán)境考驗,需要具備高可靠性的特性。需要經(jīng)過很多測試項目,其中一項推拉力測試就需要用到我們的設(shè)備。為了確保宇航級芯片能夠正常工作,它需要經(jīng)過嚴格的測試和驗證,以保證其高可靠性和穩(wěn)定性。
航天航空芯片

推拉力測試:

依據(jù)astm d1002測試方法,測量材質(zhì)Al(5×5mm)+陶瓷,推拉力,其中固化條件為30min@125℃+90min@160℃,單位kg

推拉力測試結(jié)果:22-23kg。
芯片推拉力測試機1-LB8100A.jpg

ASTM D1002是美國材料和試驗協(xié)會(ASTM)發(fā)布的標準方法,用于測量材料的推力、拉力、剪切強度。該方法適用于各種類型的材料,包括芯片、金屬、元器件等。

在ASTM D1002中,推拉力強度是通過測試在規(guī)定條件下的試樣的剪切力來確定的。測試通常在一臺推拉力機上進行,使用適當?shù)膴A具將試樣夾住,然后以一定的速度施加剪切力,直到試樣破壞或到達規(guī)定的測試時間。測量的結(jié)果是試樣破壞前的最大剪切應(yīng)力。

ASTM D1002定義了一系列測試條件,如試樣尺寸、加載速率、環(huán)境溫度等。按照這些條件進行測試可以確保測試結(jié)果的準確性和可比性。

推拉力測試是衡量材料抵抗應(yīng)力的能力的指標,對于許多工程應(yīng)用和設(shè)計決策非常重要。通過ASTM D1002測試,可以獲得材料的力值強度數(shù)據(jù),用于比較不同材料、評估材料質(zhì)量、指導(dǎo)產(chǎn)品設(shè)計等。

技術(shù)總結(jié)

應(yīng)用于航天航空的芯片在焊接、運輸、使用等條件下,通常會由于振動、沖擊彎曲變形等,從而在焊點或者器件上產(chǎn)生機械應(yīng)力,并最終導(dǎo)致焊點或者器件失效。可以通過芯片推拉力測試機來模擬焊點的機械失效模型,分析焊點或器件失效原因,評價料件的可靠性。

功能

1、高精度:測試機的精度高達0.1N,可以滿足大多數(shù)實際應(yīng)用的需求;

2、自動控制:采用自動控制技術(shù),不僅可以檢測推拉力,還可以對測試結(jié)果進行自動存儲和分析,提高實驗效率;

3、安全可靠:采用安全可靠的技術(shù),能夠確保測試過程中不會發(fā)生意外事件;

4、實用性強:可以測量多種材料的推拉力,實用性很強。

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