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芯片推拉力測試機測試參數(shù)全面解析,不容錯過!

發(fā)布時間:2023-06-08         文章來源:
芯片推拉力測試機常用參數(shù)有剪切高度、回升距離、測試行程、測試速度、合格力值、回原位補償?shù)?,對于剛接觸這一款多功能型的測力設(shè)備的新手,還是有點不太明白測試機測試參數(shù)概念及如何設(shè)置,今天,博森源電子工程師為大家解析一二。
推拉力測試機測試參數(shù).JPG
1.剪切高度

一般設(shè)置為20um,是指在進行剪切測試時,樣品與刀口(推刀、拉針)之間的距離。這個高度通常是根據(jù)樣品的厚度和測試要求來確定的。在進行剪切測試時,樣品被放置在測試機的夾持裝置中,然后刀口被移動以剪切樣品。剪切高度的選擇對測試結(jié)果有很大的影響,因為它會影響到樣品的應(yīng)變率和剪切力的大小。因此,在進行剪切測試時,需要根據(jù)具體的測試要求和樣品特性來選擇合適的剪切高度。


2.回升距離

是指在進行拉伸或壓縮測試時,測試機在達到最大載荷后,釋放載荷并回到初始狀態(tài)的距離。這個距離通常是測試機的一個重要參數(shù),因為它可以反映測試機的精度和穩(wěn)定性。在進行拉伸或壓縮測試時,測試機會施加一個載荷,直到樣品斷裂或達到預(yù)設(shè)的最大載荷。然后,測試機會釋放載荷并回到初始狀態(tài),這個過程中的回升距離就是測試機的回升距離。

3.測試行程

是指測試機在進行拉伸或壓縮測試時,夾持裝置和傳感器所能移動的最大距離。測試行程通常是測試機的一個重要參數(shù),因為它可以影響到測試的精度和可靠性。

在進行拉伸或壓縮測試時,測試機會施加一個逐漸增加的載荷,直到樣品斷裂或達到預(yù)設(shè)的最大載荷。在測試過程中,夾持裝置和傳感器會隨著載荷的增加而移動,直到達到測試行程的限制。如果測試行程不足,則可能無法完成測試,或者測試結(jié)果可能不準(zhǔn)確。

測試行程的大小取決于測試要求和樣品特性。在選擇測試機時,需要考慮測試行程這個參數(shù),以確保測試機的測試行程能夠滿足測試要求。如果測試行程不足,可以選擇更大的測試行程的測試機,或者通過改變夾持裝置和傳感器的位置來擴大測試行程。

4.測試速度
限定為0.3mm/s。是指在進行拉伸或壓縮測試時,測試機施加載荷的速度。測試速度通常是測試機的一個重要參數(shù),因為它可以影響到測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

在進行拉伸或壓縮測試時,測試機會施加一個逐漸增加的載荷,直到樣品斷裂或達到預(yù)設(shè)的最大載荷。測試速度決定了載荷增加的速度,如果測試速度過快,則可能無法準(zhǔn)確記錄樣品的應(yīng)力-應(yīng)變曲線,從而影響測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。如果測試速度過慢,則測試時間會變長,從而影響測試效率。

測試速度的大小取決于測試要求和樣品特性。在選擇測試機時,需要考慮測試速度這個參數(shù),以確保測試機的測試速度能夠滿足測試要求。通常,測試速度應(yīng)該根據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品規(guī)格來確定,并在測試過程中保持恒定。如果需要進行不同速度的測試,可以選擇具有可調(diào)速度的測試機。


5.合格力值

下限值為10gf;上限值為5000gf。是指在進行拉伸或壓縮測試時,樣品所承受的最大載荷,該載荷被認(rèn)為是樣品合格的最小值。合格力值通常是根據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品規(guī)格來確定的,以確保樣品的質(zhì)量和性能符合要求。

在進行拉伸或壓縮測試時,測試機會施加一個逐漸增加的載荷,直到樣品斷裂或達到預(yù)設(shè)的最大載荷。在測試過程中,測試機會記錄樣品所承受的最大載荷,這個載荷就是合格力值。如果樣品的合格力值高于或等于規(guī)定的最小值,則樣品被認(rèn)為是合格的。

合格力值的大小取決于測試標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品規(guī)格的要求。在進行測試前,需要確定合格力值的大小,并根據(jù)這個值來設(shè)置測試機的測試參數(shù)。


6.回原位補償

是指在進行拉伸或壓縮測試時,測試機在達到最大載荷后,釋放載荷并回到初始狀態(tài)時,測試機自動進行的微小位移調(diào)整,以確保測試機回到準(zhǔn)確的初始位置。這個過程中的微小位移調(diào)整就是回原位補償。

回原位補償是測試機的一個重要功能,因為它可以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。在進行拉伸或壓縮測試時,測試機的夾持裝置和傳感器可能會發(fā)生微小的位移或變形,這些變化可能會影響測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。通過回原位補償,測試機可以自動進行微小的位移調(diào)整,以確保測試機回到準(zhǔn)確的初始位置,從而消除這些影響。

回原位補償?shù)拇笮⊥ǔJ菧y試機的一個可調(diào)參數(shù),可以根據(jù)測試要求和樣品特性進行調(diào)整。在選擇測試機時,需要考慮回原位補償這個功能。

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